探索Zynq7000硬件开发：一窥硬件开发流程

Zynq7000硬件开发之硬件开发流程简介（二）

硬件开发的整个全部流程持续时间比较长，但实际项目中可能有一些可借鉴的硬件产品，对硬件需求进行相应升级。硬件开发的整个流程主要包括有硬件需求分析、硬件总体设计方案、硬件开发与质量控制、系统测试、文件归档及验收。

4、系统测试

硬件与软件具备条件后，需要进行联合测试，测试前硬件需保证板上电源均正常，主要测试目的是发现设计缺陷与不足，通过相应的硬件各功能指标测试、硬件在环测试、环境测试、EMC测试以及可靠性测试等。

硬件各功能指标测试包括有电源质量测试、各功能单元电路测试、信号完整性测试、DDR等存储器读写测试、以太网测试、PCIE测试、USB测试、光发送功率及接收灵敏度测试等。

硬件在环测试，将目标硬件的外部所需的接口设备全部连接进行功能测试，外部设备可以是实物、模拟装置、数字仿真器等，模拟硬件实际运行工况，对软硬件进行验证。

环境测试，工业级民品主要依据国标GB-T 2423系列标准进行环境测试验证，一般包括有高温存储、低温存储、高温运行、低温运行、温度变化试验、恒定湿热试验、交变湿热试验、盐雾霉菌试验以及机械振动试验等。

EMC测试包括有EMS和EMI两类试验，工业级民品主要依据GB-T 17626系列标准（对应国际IEC 61000系列标准），主要包含有静电放电抗扰度、射频电磁场辐射抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌抗扰度、阻尼振荡磁场抗扰度、工频磁场抗扰度、脉冲磁场抗扰度、传导发射试验、射频发射试验等。

可靠性测试包括有HALT和HASS两类试验，HALT试验全称是高加速寿命试验，是一种试验方法（思想），采用的环境应力比加速试验更加严酷。主要应用于产品开发阶段，它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来，从而为我们做设计改进，提升产品可靠性提供依据。HASS试验全称是高加速应力筛选试验。HASS是产品通过HALT得出工作极限或破坏极限值后在生产阶段所做的高加速应力筛选，一般要求100％的产品参加筛选。

5、文件归档及验收

测试通过后，需对中间各过程文件进行评审、验收并入至公司资料库，以备后续小批量及量产后可能出现的问题分析测试提供参考，验收后需不断跟踪批量生产及运行过程中的问题，对硬件隐患不断进行维护升级，采用模块化设计思想可以大量减少该部分工作量。

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