数据结构与算法

ISO26262标准下的功能安全硬件开发指南

发表时间: 2022-01-25 09:43

基于V模型的硬件开发

硬件需求-> 硬件开发-> 硬件集成测试

评估硬件架构指标

单点故障指标SPFM（Single-Point Fault Metric）

潜在故障指标LFM（Latent-FaultMetric）

评估基于随机失效率的违反安全目标

随机硬件失效率PHFM（Probabilistic Metric for random Hardware Failures）

SPFM=（总失效率-单点\残余故障失效率）/总失效率

LFM=（总体失效率-单点\残余故障失效率-潜在故障失效率）/（总体失效率-单点\残余故障失效率）

Metrics	ASIL B	ASIL C	ASIL D
SPFM	≥ 90%	≥ 97%	≥ 99%
LFM	≥ 60%	≥ 80%	≥ 90%
PMHF	≤ 100 FIT	≤ 100 FIT	≤ 10 FIT

硬件设计安全分析

方法		ASIL
方法		A	B	C	D
1	演绎分析（通常分析方法是FTA）	0	+	++	++
2	归纳分析（通常分析方法是FMEA）	++	++	++	++

硬件设计验证

方法		ASIL
方法		A	B	C	D
1a	硬件设计走查	++	++	0	0
1b	硬件设计检查	+	+	++	++
2	安全分析	见上表
3a	仿真	0	+	+	+
3b	硬件原型设计	0	+	+	+

推导测试用例用于硬件集成测试

方法		ASIL
方法		A	B	C	D
1a	需求分析	++	++	++	++
1b	内外部接口分析	+	++	++	++
1c	产生相当的类别分析	+	+	++	++
1d	分析边界值	+	+	++	++
1e	错误预判	++	++	++	++
1f	分析功能相关性	+	+	++	++
1g	分析失效的极限状况、次序和源	+	+	++	++
1h	分析环境状况和可操作用例	+	++	++	++
1i	现有标准分析	+	+	+	+
1j	信息重要参数	++	++	++	++

功能安全集成测试

方法		ASIL
方法		A	B	C	D
1a	功能测试	++	++	++	++
1b	故障注入测试	+	+	++	++
1c	电性能测试	++	++	++	++

硬件集成测试以验证外部压力下的鲁棒性和操作性

方法		ASIL
方法		A	B	C	D
1a	环境测试基本功能	++	++	++	++
1b	扩展功能测试	0	+	+	++
1c	静态测试	0	0	+	++
1d	最坏情况测试	0	0	0	+
1e	边界测试	+	+	+	+
1f	机械测试	++	++	++	++
1g	加速老化测试	+	+	++	++
1h	机械耐久测试	++	++	++	++
1i	EMC 和 EDS 测试	++	++	++	++
1j	化学测试	++	++	++	++

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