3C消费电子行业实战案例解析

一、端钮缺陷检测

端钮是电路元件与电路其他部分的联接点；pin针是连接器中用来完成电（信号）的导电（传输）的一种金属物质。若端钮上pin针的安装位置出现偏差，则会出现安装不上或通信失败的情况，因此，对pin针进行缺陷检测显得尤为重要。

大族激光旗下全资子公司深圳市大族视觉技术有限公司（简称：大族视觉）HV系列智能视觉处理系统具有独特的3D+2D缺陷检测算法，可以满足端钮pin针高度异常、pin针缺失、pin针偏移等情况的检测，以确保出厂的端钮没有明显缺陷。

①检测项目

pin针缺失：固定规格的端钮上pin针的数量和位置是固定的，pin针漏装就会出现pin针缺失，从而导致使用时通信故障。

pin针偏移：端钮上的pin针均是垂直安装的，任意一个针脚偏移都会造成连接电子元件失败。

pin针高度异常：固定规格的端钮上固定位置处的pin针高度是固定的，如果pin针高度过高或者过低，则会造成连接电子元件失败。

②检测方案

软件：HVVS 3D+2D缺陷检测算

硬件：3D线扫相机

③检测效果

一次扫描六个产品，通过软件算法处理，分别对每个产品进行检测识别。

点胶检测

采用3D相机，可以检测pin针高度，pin针缺失、偏移、凸点缺失、表面破损NG情况。

采用传统2D图像算法，可以检测电容脏污、破损，pin针高度、pin针缺失、pin针偏移。

pin针高度、pin针缺失、pin针偏移

电容破损

电容脏污

二、卡扣缺陷检测

卡扣是用于一个零件与另一零件的嵌入连接或整体闭锁的机构，通常用于塑料件的联接，其材料通常由具有一定柔韧性的塑料材料构成。卡扣连接最大的特点是安装拆卸方便，可以做到免工具拆卸。

外观不良或表面缺陷的塑料卡扣，会影响装配效率或整机性能，与预定的质量标准(检验标准)有一定的差异，也会影响产品的美观和性能，无法满足工艺品质要求。因此，高度准确和可靠的产品外观检测过程可确保产品合格。

①检测项目

塑料卡扣外观缺陷检测

②检测难点

高反光材料，纹理繁杂，缺陷形状多样，位置不固定

③检测方案

软件：HV5.0 2D图像算法+Blob分析

硬件：定制组合2D相机，光源

④检测效果

采用2D图像算法处理，可以精准测量卡扣长宽，检测识别卡扣表面缺陷和破损

正反面破损检测

正反面破损检测

正反面划痕检测

正反面划痕检测

随着工业4.0时代的发展，在生产制造流程上加入机器视觉检测是制造企业的必然选择，也是原始工厂向智能制造转型升级的重要桥梁。

三、金属屏蔽罩缺陷检测方案

屏蔽罩是用来屏蔽电子信号的工具，作用就是屏蔽外界电磁波对内部电路的影响和内部产生的电磁波向外辐射。屏蔽罩的侧壁底面平整度、小件高度及小孔焊接缺陷会直接影响屏蔽效果，因此，对屏蔽罩进行检缺陷测是非常必要的。

①检测项目

屏蔽罩平面高度、屏蔽罩小件高度、屏蔽罩小孔焊接缺陷、屏蔽盖定位

②检测难点

金属材质，反光高，工件细小，纹理杂

③检测方案

软件：HVVS 3D缺陷检测算法

硬件：3D线扫相机

④检测结果

采用HV系列软件独特的2D+3D缺陷检测算法，可以检测屏蔽罩小件高度，定位屏蔽盖位置，检测小孔焊接缺陷，检测产品平整面高度，检测合格率≥97%。

大族视觉自研HV系列智能软件系统，现已广泛应用于手机制造、3C消费电子、电气元器件等行业，可为生产企业从产品选择到生产线运行，提供科学的整体解决方案，满足客户自动化定制化需求，减少人工投入，提高检测精度，实现智能制造，提高生产效率，确保产品质量，有效助力生产企业降本增效。